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SiO2與TiO2光學薄膜的制備及其橢偏測量
資料類別
   教育傳媒畢業論文(設計)
課程(專業)
  印刷工程
關鍵詞
  薄膜制備|橢圓偏振儀
適用年級
  大學
身份要求
  普通會員
金 幣
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文件格式

  word
文件大小
  45580K
發布時間
  2019-05-04 08:06:00
預覽文件
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下載次數
  1
發布人   kj008

 內容簡介:
   SiO2與TiO2光學薄膜的制備及其橢偏測量,畢業論文,共60頁,19238字,附開題報告、答辯文稿、外文翻譯等。
  摘 要
  隨著薄膜技術在信息存儲、電子元器件、航天技術以及光學儀器等方面的越來越廣泛的應用,薄膜光學參數(折射率n、吸光系數k和薄膜厚度d)的準確測量逐漸成為薄膜研究的重要方向。
  在本文中,選擇性能比較優異的SiO2、TiO2光學薄膜為研究對象,它們具有非常高的化學穩定性和機械強度性能,通過溶膠-凝膠法,用硅酸乙酯、鈦酸丁酯分別配制成SiO2、TiO2薄膜。然后用SC630全自動橢圓偏振光譜儀測量這兩種光學薄膜的參數性能。通過分析得出控制測量角度,使得測量所得的薄膜的折射率和吸光系數更加精確;調節提拉速度和溶液的溶度來控制薄膜的厚度。用上述方法制備薄膜,簡單容易,所需要的設備少,同時耗資也少。用橢圓偏振法測量薄膜的參數性能,操作簡單,快捷方便。
  關鍵詞:光學薄膜;薄膜制備;橢圓偏振儀;橢偏測量
 
  目 錄
  摘 要 I
  Abstract II
  1 緒 論 1
  1.1 光學薄膜的概述 1
  1.2 光學薄膜的發展現狀 2
  1.2.1 光學薄膜在國外的發展現狀 2
  1.2.2 光學薄膜在國內的發展現狀 2
  1.3 光學薄膜的特點及性能 2
  1.3.1 光學薄膜的特點 2
  1.3.2 光學薄膜的性能 2
  1.4 光學薄膜的橢偏測量 3
  1.4.1 橢圓偏振原理 3
  1.4.2 橢圓偏振儀概述 4
  1.4.3橢圓偏振儀系統結構及其優點和特點 5
  1.4.4 橢圓偏振的發展現狀 6
  1.4.5 橢圓偏振儀的應用 7
  1.5 研究的主要內容 8
  2 實驗設計 10
  2.1 實驗藥品和儀器 10
  2.2 SiO2與TiO2光學薄膜的制備 10
  2.2.1 SiO2光學薄膜的制備 10
  2.2.1 TiO2光學薄膜的制備 11
  2.3 SiO2與TiO2光學薄膜的橢偏測量 12
  2.3.1 SC630全自動橢圓偏振光譜儀的操作 12
  2.3.2 SiO2與TiO2光學薄膜的參數測量 14
  3 結果與討論 15
  3.1 SiO2光學薄膜的測量數據的處理 15
  3.1.1 實驗數據處理 15
  3.1.2 實驗數據分析 15
  3.2 TiO2光學薄膜的測量數據的處理 21
  3.2.1 實驗數據處理 21
  3.2.2 實驗數據分析 21
  結 論 29
  參考文獻 30
  致 謝 32
  附 錄 33

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